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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

241

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Bioimpedance spectroscopy Switches Self-oscillations Test Integrated circuit testing Bio-logging Edge artificial intelligence edge AI OQPSK Edge AI Indirect test Integrated circuit noise Quantum Noise measurement Circuit faults Analog signals Automatic test pattern generation RF integrated circuits Phase shifter Carbon nanotube Computer architecture Integrated circuits Magnetic tunneling Test efficiency Digital signal processing Low-power RSA Machine-learning algorithms 1-bit acquisition Microprocessors Neuromorphic computing Quantum computing Side-channel attacks ADC RF test SEU FDSOI technology Convective accelerometer MEMS Error mitigation Self-heating Fault attacks Hardware security Indirect testing Hardware Beyond-CMOS devices Power demand Integrated circuit modeling Three-dimensional displays Noise Oscillatory Neural Networks Technology computer-aided design TCAD Current mirror SRAM Electronic tagging Interconnects Oscillatory Neural Network Three-dimensional integrated circuits Countermeasures Deep learning Specifications Pattern recognition Alternate testing Oscillatory neural network Performance Time-domain analysis Delays Energy Ensemble methods Image Edge Detection Electrothermal simulation Low-cost measurements Phase noise Evaluation Oscillatory neural networks ONN Education Analog/RF integrated circuits Logic gates Test cost reduction Bioimpedance Through-silicon vias ZigBee Insulator-Metal-Transition IMT Reliability Qubit One bit acquisition 3D integration Circuit simulation Transistors Mutual information Carbon nanotubes Process variability Digital ATE Vanadium dioxide Test confidence Fault tolerance Calibration NP-hard problems Sensors Side-channel analysis EM fault injection