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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

242

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Ensemble methods Deep learning Hardware security Countermeasures Sensors Vanadium dioxide Electrothermal simulation Test confidence Time-domain analysis Education RF test Automatic test pattern generation Indirect testing Integrated circuit noise SEU Microprocessors Technology computer-aided design TCAD SRAM Magnetic tunneling Side-channel attacks Mutual information Pattern recognition Indirect test Insulator-Metal-Transition IMT Integrated circuits Qubit One bit acquisition Beyond-CMOS devices 3D integration Calibration Through-silicon vias Electronic tagging FDSOI technology Analog signals Switches EM fault injection ADC Analog/RF integrated circuits Self-heating Current mirror Noise measurement Quantum computing Bioimpedance ZigBee Circuit faults Alternate testing Power demand Circuit simulation Bio-logging Fault tolerance Edge artificial intelligence edge AI Specifications OQPSK Low-power Integrated circuit modeling Image Edge Detection Energy Error mitigation Neuromorphic computing MEMS Self-oscillations Digital signal processing Test Phase shifter 1-bit acquisition Reliability RSA Interconnects NP-hard problems Process variability Oscillatory Neural Network Performance Delays Fault attacks Three-dimensional integrated circuits Machine-learning algorithms Convective accelerometer Oscillatory neural networks ONN Hardware Three-dimensional displays Quantum Test cost reduction Transistors Evaluation Noise Low-cost measurements Oscillatory Neural Networks Test efficiency Logic gates Oscillatory neural network Carbon nanotube Digital ATE Computer architecture Edge AI RF integrated circuits Integrated circuit testing Phase noise Side-channel analysis Bioimpedance spectroscopy Carbon nanotubes